The weibull-negative-binomialmodel under latent failure causes with randomized activation schemes.
| dc.contributor | Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação – ICMC/USP | pt_BR |
| dc.contributor.author | Yiqi, Bao | |
| dc.contributor.author | Cancho, Vicente Garibay | |
| dc.contributor.author | Louzada Neto, Francisco | |
| dc.date.accessioned | 2018-08-08T15:15:29Z | |
| dc.date.available | 2018-08-08T15:15:29Z | |
| dc.date.issued | 2011 | |
| dc.description.abstract | in this paper we propose the Weibull-NegativeBinomial(WNB) distribution under latent failure causes with randomized activation scheme. The proposed model is general by assuming a latent activation structure to explain the occurrence of an event of interest, where the number of competing causes are rnodeled by negative binomial distribution while the competitive causes may have different activation mechanisms, namely. first, random and last ones. Moreover, we derive some standard properties of the WNB distribution and discuss inference via the maximum likelihood approach. The WNB distribution generalizes various usual lifetime distributions, but particularly the extended Weibull—Geometric distribution introduced by Barreto-Souza et al. (2011), when the first activation scheme is considered, and the exponential—Poisson lifetime distribution proposed by Gancho et al. (2011), when the last activation scheme is considered. A misspecification simulation study comparing the proposed model in the presence of different activation schemes with the usual Weibull distribution is performed. Application of the proposed model in two sets of real data illustrates its flexibility. | pt_BR |
| dc.description.notes | Relatórios Técnicos do ICMC; 371 | pt_BR |
| dc.format | 23 p. | pt_BR |
| dc.identifier.uri | http://repositorio.icmc.usp.br//handle/RIICMC/6803 | |
| dc.language.iso | eng | pt_BR |
| dc.publisher.city | São Carlos, SP, Brasil. | pt_BR |
| dc.subject | Estatística | pt_BR |
| dc.subject | Estatística aplicada | pt_BR |
| dc.title | The weibull-negative-binomialmodel under latent failure causes with randomized activation schemes. | pt_BR |
| dc.title.alternative | O modelo binomial weibull-negativo sob causas de falhas latentes com esquema de ativação randomizado. | pt_BR |
| dc.type.category | Relatórios técnicos | pt_BR |
| usp.description.abstracttranslated | Neste artigo, propomos a distribuição Weibull-NegativeBinomial (WNB) sob causas de falhas latentes com esquema de ativação randomizado. O modelo proposto é geral, assumindo uma ativação latente estrutura para explicar a ocorrência de um evento de interesse, onde o número de causas é modelado pela distribuição binomial negativa, enquanto as causas competitivas podem ter diferentes mecanismos, nomeadamente. primeiro, aleatórios e últimos. Além disso, derivamos algumas propriedades padrão do Distribuição WNB e discutir inferência através da abordagem de máxima verossimilhança. A distribuição do WNB generaliza várias distribuições usuais de tempo de vida, mas particularmente a distribuição Weibull introduzido por Barreto-Souza et al. (2011), quando o primeiro esquema de ativação é considerado, e a exponencial - distribuição ao longo da vida de Poisson proposta por Gancho et al. (2011), quando a última ativação esquema é considerado. Um estudo de simulação misspecification comparando o modelo proposto na presença de esquemas de ativação diferentes com a distribuição usual de Weibull é executada. Aplicação do modelo proposto em dois conjuntos de dados reais ilustra sua flexibilidade. | pt_BR |