The weibull-negative-binomialmodel under latent failure causes with randomized activation schemes.

dc.contributorInstituto de Ciências Matemáticas e de Computação – ICMC/USPpt_BR
dc.contributor.authorYiqi, Bao
dc.contributor.authorCancho, Vicente Garibay
dc.contributor.authorLouzada Neto, Francisco
dc.date.accessioned2018-08-08T15:15:29Z
dc.date.available2018-08-08T15:15:29Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractin this paper we propose the Weibull-NegativeBinomial(WNB) distribution under latent failure causes with randomized activation scheme. The proposed model is general by assuming a latent activation structure to explain the occurrence of an event of interest, where the number of competing causes are rnodeled by negative binomial distribution while the competitive causes may have different activation mechanisms, namely. first, random and last ones. Moreover, we derive some standard properties of the WNB distribution and discuss inference via the maximum likelihood approach. The WNB distribution generalizes various usual lifetime distributions, but particularly the extended Weibull—Geometric distribution introduced by Barreto-Souza et al. (2011), when the first activation scheme is considered, and the exponential—Poisson lifetime distribution proposed by Gancho et al. (2011), when the last activation scheme is considered. A misspecification simulation study comparing the proposed model in the presence of different activation schemes with the usual Weibull distribution is performed. Application of the proposed model in two sets of real data illustrates its flexibility.pt_BR
dc.description.notesRelatórios Técnicos do ICMC; 371pt_BR
dc.format23 p.pt_BR
dc.identifier.urihttp://repositorio.icmc.usp.br//handle/RIICMC/6803
dc.language.isoengpt_BR
dc.publisher.citySão Carlos, SP, Brasil.pt_BR
dc.subjectEstatísticapt_BR
dc.subjectEstatística aplicadapt_BR
dc.titleThe weibull-negative-binomialmodel under latent failure causes with randomized activation schemes.pt_BR
dc.title.alternativeO modelo binomial weibull-negativo sob causas de falhas latentes com esquema de ativação randomizado.pt_BR
dc.type.categoryRelatórios técnicospt_BR
usp.description.abstracttranslatedNeste artigo, propomos a distribuição Weibull-NegativeBinomial (WNB) sob causas de falhas latentes com esquema de ativação randomizado. O modelo proposto é geral, assumindo uma ativação latente estrutura para explicar a ocorrência de um evento de interesse, onde o número de causas é modelado pela distribuição binomial negativa, enquanto as causas competitivas podem ter diferentes mecanismos, nomeadamente. primeiro, aleatórios e últimos. Além disso, derivamos algumas propriedades padrão do Distribuição WNB e discutir inferência através da abordagem de máxima verossimilhança. A distribuição do WNB generaliza várias distribuições usuais de tempo de vida, mas particularmente a distribuição Weibull introduzido por Barreto-Souza et al. (2011), quando o primeiro esquema de ativação é considerado, e a exponencial - distribuição ao longo da vida de Poisson proposta por Gancho et al. (2011), quando a última ativação esquema é considerado. Um estudo de simulação misspecification comparando o modelo proposto na presença de esquemas de ativação diferentes com a distribuição usual de Weibull é executada. Aplicação do modelo proposto em dois conjuntos de dados reais ilustra sua flexibilidade.pt_BR
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